甩賣(mài)電路板故障維修測(cè)試儀 

新型的GT4040UXP-Ⅱ可在WIN98，WIN2000，WIN XP 等系統(tǒng)下工作，帶有USB接口，雙CPU工作，速度更快，效率更高。可測(cè)三端器件，另外有庫(kù)，西門(mén)子庫(kù)，可定量測(cè)試L，C，R參數(shù),,可對(duì)運(yùn)算放大器，光耦，三端電源進(jìn)行測(cè)試。

甩賣(mài)電路板故障維修測(cè)試儀 
在維修各種電子設(shè)備時(shí)，您是否常因圖紙資料不全而束手無(wú)策？您是否常因高昂的維
修費(fèi)用而增添煩惱？

[GT]系列檢測(cè)儀幫助您解除電路板維修中的煩惱。配合電腦使用，全部智能化。它利
用電腦來(lái)彌補(bǔ)人工維修能力的不足，能夠在維修人員缺乏圖紙資料或不清楚電路板工作原
理的情況下，對(duì)各種類(lèi)型的電路板進(jìn)行ASA分析或ICT測(cè)試，在線(xiàn)檢測(cè)元器件好壞，迅速檢
測(cè)到電路板上故障元器件。簡(jiǎn)捷經(jīng)濟(jì)地修好各種類(lèi)型電路板。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

◆先進(jìn)的測(cè)試技術(shù)，強(qiáng)大的驅(qū)動(dòng)能力，任何故障原因的電路板皆可修好
◆友好簡(jiǎn)單的中文操作界面，不經(jīng)專(zhuān)業(yè)訓(xùn)練，任何人均可成為維修專(zhuān)家
◆無(wú)需電路原理圖，不必知道器件型號(hào)，對(duì)任何電路板皆可快速維修
◆40×2路數(shù)字電路測(cè)試功能，備有TTL/CMOS/RAM及中規(guī)模集成電路數(shù)據(jù)庫(kù)；
◆40×2（ASA）V/I，曲線(xiàn)分析測(cè)試功能
◆電路板測(cè)試存儲(chǔ)功能，被測(cè)板可與之比較
◆與進(jìn)口同類(lèi)儀器比較，性?xún)r(jià)比更優(yōu)，操作更方便
◆通用于各類(lèi)雙列直插式封裝芯片，可為大中規(guī)模集成電路提供分析測(cè)試。
◆本功能亦可通過(guò)學(xué)習(xí)記錄，比較分析來(lái)測(cè)試。 

技術(shù)規(guī)格：
Windows界面可在WIN98，WIN2000，WIN XP 等系統(tǒng)下工作
雙CPU工作，速度更快，效率更高。
功能測(cè)試40×2通道
VI曲線(xiàn)測(cè)試40×2通道
雙測(cè)試夾VI曲線(xiàn)測(cè)試
網(wǎng)絡(luò)提取 程控加電
EPROM/RAM在線(xiàn)讀取
模擬器件 VI曲線(xiàn)測(cè)試
總線(xiàn)隔離信號(hào)
中文維修筆記

一、序言
GT/ICT系列測(cè)試儀已推出近十年。一方面漸入人心，一方面用戶(hù)也有了更高的要求。我公司集多年不懈努力，成功研制出換代產(chǎn)品GT/ICT-Ⅱ系

列，把GT/ICT測(cè)試儀發(fā)展到了一個(gè)新的階段，能夠更好的滿(mǎn)足用戶(hù)的實(shí)際需求。
從測(cè)試技術(shù)方面來(lái)看，GT/ICT測(cè)試儀是“后驅(qū)動(dòng)”、“器件模擬端口分析（ASA）”測(cè)試技術(shù)的簡(jiǎn)單使用，而GT/ICT-Ⅱ系列是在跟隨這兩項(xiàng)技

術(shù)在上的發(fā)展，在總結(jié)了多年來(lái)的實(shí)際應(yīng)用經(jīng)驗(yàn)的基礎(chǔ)上重新設(shè)計(jì)而成，因而有更好的測(cè)試效果；從產(chǎn)品的軟、硬件實(shí)現(xiàn)技術(shù)方面來(lái)

看，GT/ICT軟件脫胎于DOS系統(tǒng)，主要由中小規(guī)模集成電路組成，而GT/ICT-Ⅱ系列*在Windows平臺(tái)上打造，大量采用了大規(guī)模EPLD、表面貼

裝器件等現(xiàn)代電路設(shè)計(jì)技術(shù)，因而具有更友好的人-機(jī)界面，更高的技術(shù)指標(biāo)和可靠性。 
全面提高技術(shù)水平的目的，是改進(jìn)、擴(kuò)充測(cè)試功能。為突出重點(diǎn)，先在本文中介紹對(duì)兩個(gè)Z常用的測(cè)試功能：“ASA（VI）曲線(xiàn)測(cè)試”、“數(shù)

字器件在線(xiàn)功能測(cè)試”的改進(jìn)。（注意相同之處不再贅述，請(qǐng)參見(jiàn)GT/ICT測(cè)試儀的相關(guān)說(shuō)明）。我們將在以后的文章中，介紹其它方面的改進(jìn)

。
需要說(shuō)明的是，市場(chǎng)上的GT/ICT系列測(cè)試儀有幾個(gè)版本，總體水平差別不大，僅軟件界面形式略有不同。本文主要以其中一種作為參照。

二、對(duì)ASA（VI）曲線(xiàn)測(cè)試的改進(jìn)
2.1 大大擴(kuò)展了故障覆蓋范圍
這里擴(kuò)展范圍，是指GT/ICT測(cè)試儀不能測(cè)試，或測(cè)試效果不好，而GT/ICT-Ⅱ能夠測(cè)試，或測(cè)試效果有較大改進(jìn)。
2.1.1 測(cè)試三端器件
GT/ICT測(cè)試儀不能全面檢測(cè)三端器件的好壞。GT/ICT-Ⅱ*解決了這個(gè)問(wèn)題。
三端器件是指閘流管（可控硅）、MOS三管、電壓調(diào)節(jié)器等具有三個(gè)引出端，以及光藕、繼電器等可以等效成三個(gè)引出端的器件。下面以閘流

管（可控硅）為例，來(lái)說(shuō)明GT/ICT-Ⅱ如何改進(jìn)了對(duì)此類(lèi)元件的測(cè)試。
用GT/ICT測(cè)試閘流管，當(dāng)ASA（正弦）測(cè)試信號(hào)加在它的陽(yáng)和陰之間時(shí)，控制端沒(méi)有信號(hào)，閘流管處于截止?fàn)顟B(tài)，所以從曲線(xiàn)上只能觀察到

截止?fàn)顟B(tài)是否正常（兩之間是否短路、或有較大漏流），不能發(fā)現(xiàn)導(dǎo)通狀態(tài)是否正常。比如，會(huì)把陽(yáng)和陰開(kāi)路的故障誤判成截止?fàn)顟B(tài)正

常。
GT/ICT-Ⅱ設(shè)計(jì)了一個(gè)脈沖信號(hào)，測(cè)試時(shí)加在閘流管的控制端，控制閘流管在ASA（正弦）測(cè)試信號(hào)期間出現(xiàn)導(dǎo)通、截止兩種狀態(tài)，實(shí)現(xiàn)了對(duì)閘

流管進(jìn)行全面的檢測(cè)。
例1：用GT/ICT-Ⅱ測(cè)出的*閘流管的曲線(xiàn)

圖中橫線(xiàn)是否足夠水平反映了截止?fàn)顟B(tài)是否夠好、豎線(xiàn)是否足夠垂直反映了導(dǎo)通阻抗是否足夠小、豎線(xiàn)與縱軸的間距就是導(dǎo)通電壓的大小。

（GT/ICT測(cè)試儀只能測(cè)出一根水平線(xiàn)。）
測(cè)試不同的三端器件需要不同的控制方式——正弦波和脈沖的匹配（同步）形式。為了更好地滿(mǎn)足測(cè)試各種三端器件的不同要求，在GT/ICT-Ⅱ

上共設(shè)置了八種匹配方式——脈沖相對(duì)于正弦波的起始、結(jié)束位置及寬度、高度均可調(diào)整；支持單向觸發(fā)、雙向觸發(fā)。詳細(xì)情況請(qǐng)參見(jiàn)產(chǎn)品使

用說(shuō)明。
2.1.2 自動(dòng)曲線(xiàn)靈敏度調(diào)整
GT/ICT測(cè)試儀沒(méi)有ASA曲線(xiàn)對(duì)電路變化（故障）的自動(dòng)靈敏度調(diào)整功能，有些本該能夠檢測(cè)出來(lái)的故障因此不能發(fā)現(xiàn)。
我們來(lái)比較下面三組電阻的ASA曲線(xiàn)。 

0.1K/0.15K 1K/1.5K 10K/15K
*組顯示了0.1K和0.15K電阻的VI曲線(xiàn)；第二組1K和1.5K；第三組10K和15K。盡管實(shí)際電路的相對(duì)變化大小*相同，但看上去中間兩條曲線(xiàn)

差別大，兩邊的要小得多。我們說(shuō)，中間組的曲線(xiàn)靈敏度高，而兩邊組的靈敏度低。由于ASA測(cè)試是通過(guò)曲線(xiàn)位置差異大小來(lái)發(fā)現(xiàn)故障的，所以

，在故障測(cè)試中很可能只判斷中間組有問(wèn)題。
可以證明，VI曲線(xiàn)的走向趨勢(shì)越接近45度，反映電路變化的靈敏程度越高；如果VI曲線(xiàn)是一個(gè)封閉圖形，曲線(xiàn)包圍的面積越大，靈敏度越高。
曲線(xiàn)的靈敏度與被測(cè)試點(diǎn)的特征和測(cè)試參數(shù)相關(guān)。依據(jù)具體的結(jié)點(diǎn)特征，調(diào)整測(cè)試參數(shù)，從而得到較高靈敏度的曲線(xiàn)，叫做調(diào)整VI曲線(xiàn)（關(guān)于

電路故障的）靈敏度。
GT/ICT-Ⅱ新增加了自動(dòng)曲線(xiàn)靈敏度調(diào)整功能。對(duì)于上面三種情況，在選中自動(dòng)靈敏度調(diào)整后，測(cè)到的三組曲線(xiàn)都和中間組一樣。
2.1.3 測(cè)試大電容
GT/ICT只能測(cè)試Z大約兩、三百微法的電解電容的好壞。GT/ICT-Ⅱ把檢測(cè)范圍擴(kuò)大到了兩萬(wàn)微法以上。
排查電路板上容量較大的電解電容的漏電、容量變化導(dǎo)致的故障，是一件相當(dāng)令人頭痛的事情。對(duì)維修測(cè)試來(lái)說(shuō)，利用ASA曲線(xiàn)測(cè)試進(jìn)行檢測(cè)可

能是的辦法。但是GT/ICT測(cè)試儀的測(cè)試范圍小，當(dāng)容量到幾百微法以上時(shí)，本該是一個(gè)橢圓的電容ASA曲線(xiàn)就蛻化成了一根短路線(xiàn)（所包圍

的面積趨于零），根本無(wú)法判別出好壞。GT/ICT-Ⅱ加寬了測(cè)試儀的技術(shù)指標(biāo)，對(duì)于高達(dá)兩萬(wàn)多微法的電容，都能測(cè)出一個(gè)包圍了相當(dāng)面積的橢

圓。
2.1.4 給同一器件的不同管腳設(shè)置不同的測(cè)試參數(shù)
GT/ICT沒(méi)有這個(gè)功能，導(dǎo)致對(duì)有的器件測(cè)試效果差，有的器件無(wú)法測(cè)試。
用GT/ICT測(cè)試儀測(cè)試一個(gè)有多個(gè)管腳的器件的曲線(xiàn)，所有管腳都只能使用同樣的測(cè)試參數(shù)，所有管腳都要依次測(cè)試一遍。但實(shí)際檢測(cè)中，確實(shí)

存在不同管腳使用不同測(cè)試參數(shù)，來(lái)保證測(cè)試效果，也存在個(gè)別管腳不允許測(cè)試的情況。
比如，集電開(kāi)路器件7403的輸入是標(biāo)準(zhǔn)TTL電平，而輸出Z大耐壓可達(dá)32V，常用于驅(qū)動(dòng)數(shù)碼管、繼電器等。測(cè)試這種器件，測(cè)試輸入、輸出

腳的信號(hào)幅度要分別設(shè)置：對(duì)輸入應(yīng)設(shè)在略大于5V；對(duì)于輸出應(yīng)設(shè)置在略大于負(fù)載電壓，小于32V之間（比如驅(qū)動(dòng)12V數(shù)碼管時(shí)一般用15V），才

能達(dá)到全面檢測(cè)的目的。GT/ICT測(cè)試儀不能滿(mǎn)足這種使用要求。
還有，電路板上帶電池的存儲(chǔ)器里面有數(shù)據(jù)，在它的電源端、片選端不能加任何測(cè)試信號(hào)，否則會(huì)導(dǎo)致數(shù)據(jù)丟失。GT/ICT測(cè)試儀不能測(cè)試這類(lèi)

器件。
GT/ICT-Ⅱ測(cè)試儀考慮到了這些情況。允許分管腳設(shè)置測(cè)試參數(shù)，也允許不做測(cè)試的管腳。
2.2 大大提高了測(cè)試可靠性
測(cè)試可靠性是指測(cè)試結(jié)果能真實(shí)反映實(shí)際情況，不會(huì)導(dǎo)致用戶(hù)誤判故障的能力。
2.2.1 曲線(xiàn)穩(wěn)定性問(wèn)題
GT/ICT測(cè)試儀不能發(fā)現(xiàn)不穩(wěn)定曲線(xiàn)，會(huì)把好電路誤判為有故障。
即使電路**，也存在這樣的情況——在同一個(gè)管腳上，每次測(cè)到的曲線(xiàn)有明顯不同。這種情況叫做該處的曲線(xiàn)不穩(wěn)定。產(chǎn)生不穩(wěn)定

曲線(xiàn)的原因以及如何讓曲線(xiàn)穩(wěn)定下來(lái)的辦法請(qǐng)參見(jiàn)“電路在線(xiàn)維修測(cè)試儀上的ASA測(cè)試”?！对O(shè)備管理與維修》2006.6,2006.7。但測(cè)試儀先

要能夠把不穩(wěn)定曲線(xiàn)識(shí)別出來(lái)，然后才談得到處理，否則就可能把好電路誤判為有故障。
GT/ICT-Ⅱ能夠把不穩(wěn)定曲線(xiàn)識(shí)別出來(lái)，并且能具體指示出哪一個(gè)管腳上的曲線(xiàn)不穩(wěn)定，這無(wú)疑有助于提高測(cè)試結(jié)果的可靠性。
2.2.2 接觸問(wèn)題
使用測(cè)試夾學(xué)習(xí)ASA曲線(xiàn)的時(shí)候，器件管腳氧化、防銹涂層未打磨干凈、測(cè)試夾引腳磨損等原因，經(jīng)常造成夾子引腳與器件引腳接觸不上，結(jié)果

學(xué)習(xí)到了一條虛假的開(kāi)路曲線(xiàn)；比較曲線(xiàn)時(shí)也有同樣問(wèn)題。這種不可靠的曲線(xiàn)會(huì)導(dǎo)致誤判，所以在實(shí)際使用中，一旦發(fā)現(xiàn)開(kāi)路曲線(xiàn)，都要再次

確認(rèn)，比如打磨該引腳后重測(cè)。
問(wèn)題在于使用測(cè)試夾測(cè)試時(shí)，一次測(cè)試要處理許多條曲線(xiàn)。曲線(xiàn)多了以后，往往不能在一屏上一起都顯示出來(lái)。象GT/ICT測(cè)試儀那樣，靠人工

從許多條曲線(xiàn)中確認(rèn)有無(wú)開(kāi)路曲線(xiàn)，得來(lái)回翻屏或滾屏，不但效率低，而且容易漏檢。
GT/ICT-Ⅱ設(shè)計(jì)了自動(dòng)開(kāi)路曲線(xiàn)偵測(cè)、提示功能。在一次測(cè)試到的所有曲線(xiàn)中，只要存在開(kāi)路曲線(xiàn)，會(huì)給出多種提示信息。根據(jù)提示很容易找到

它在哪個(gè)管腳上，很難漏檢。
2.2.3 平均曲線(xiàn)
當(dāng)測(cè)試大量的相同對(duì)象（比如一批同樣的電路板或相同器件）時(shí)，使用從哪個(gè)好的電路板或器件上學(xué)習(xí)到的曲線(xiàn)作為參照標(biāo)準(zhǔn)為呢？
使用GT/ICT-Ⅱ測(cè)試儀，可以先學(xué)習(xí)幾個(gè)好的電路板或器件，得到多個(gè)文件，然后利用平均曲線(xiàn)功能，把這些文件中的曲線(xiàn)自動(dòng)求平均后，再自

動(dòng)生成一個(gè)新的曲線(xiàn)文件，作為以后的測(cè)試比較標(biāo)準(zhǔn)。該功能通常用于建立高質(zhì)量的標(biāo)準(zhǔn)曲線(xiàn)庫(kù)。
2.3 大大提高了使用效率
2.3.1 迅速發(fā)現(xiàn)并找到異常曲線(xiàn)（開(kāi)路、不穩(wěn)定、比較差）
用測(cè)試夾進(jìn)行測(cè)試時(shí)，一次會(huì)提取、顯示出多條曲線(xiàn)。如何才能迅速判定這些曲線(xiàn)中是否有異常曲線(xiàn)（開(kāi)路、不穩(wěn)定、差），并迅速找到異

常曲線(xiàn)呢？
使用GT/ICT，需要用戶(hù)把所有曲線(xiàn)逐一檢查一遍后進(jìn)行判斷。不但效率，而且容易漏判。為此，GT/ICT-Ⅱ增加了新的顯示手段。
1．前面已經(jīng)說(shuō)明，GT/ICT-Ⅱ能夠自動(dòng)檢測(cè)異常曲線(xiàn)。在一次測(cè)試中哪怕只有一條異常曲線(xiàn)，先在屏幕上部顯著位置提示：有開(kāi)路曲線(xiàn)或有

不穩(wěn)定曲線(xiàn)或比較差，以引起用戶(hù)注意； 
2．在學(xué)習(xí)曲線(xiàn)時(shí)，增加了按先異常、后正常排列方式，將異常管腳曲線(xiàn)排列在其它管腳曲線(xiàn)的前面； 
3．在曲線(xiàn)比較時(shí)，增加了按曲線(xiàn)誤差大小順序排列的方式，自動(dòng)將誤差較大的曲線(xiàn)排在前面（由于比較時(shí)主要關(guān)心差曲線(xiàn)）；
4．打開(kāi)管腳列表窗口，直接提示在管腳號(hào)的旁邊。
2.3.2 測(cè)試曲線(xiàn)
一次測(cè)試了多條管腳曲線(xiàn)后，可能對(duì)某個(gè)管腳曲線(xiàn)有疑問(wèn)，或不太滿(mǎn)意。比如，有異常曲線(xiàn)，要進(jìn)行適當(dāng)處理（比如對(duì)開(kāi)路曲線(xiàn)，打磨該管腳

）后重測(cè)；或者想修改某條曲線(xiàn)的設(shè)置參數(shù)后，再重測(cè)該條曲線(xiàn)，觀察其變化。使用GT/ICT-Ⅱ，在做完處理后，你只要用鼠標(biāo)雙擊某曲線(xiàn)，就

將僅僅測(cè)試這條曲線(xiàn)，其它曲線(xiàn)*不受影響。方便、快捷。
2.3.3 由管腳號(hào)查找曲線(xiàn)
當(dāng)一次測(cè)試的曲線(xiàn)較多，一屏顯示不下時(shí)，要來(lái)回翻屏或滾屏才能查看某個(gè)管腳的曲線(xiàn)，影響效率。GT/ICT-Ⅱ增加了直接從管腳號(hào)查找曲線(xiàn)的

功能。只要在腳號(hào)列表窗口中雙擊某腳號(hào)，就自動(dòng)把該管腳的曲線(xiàn)移到屏幕顯示區(qū)，并用彩色框框起來(lái)。十分快捷。
2.3.4 聲音提示
雙探棒直接對(duì)照測(cè)試方式相當(dāng)常用。用GT/ICT進(jìn)行測(cè)試時(shí)，每測(cè)試一個(gè)引腳，要先低頭——把兩個(gè)探棒穩(wěn)定接觸在相應(yīng)被測(cè)管腳上，然后再抬

頭看屏幕——確認(rèn)對(duì)照結(jié)果，一上一下，有人開(kāi)玩笑稱(chēng)為“雞啄米”。當(dāng)處理的腳數(shù)多時(shí)，相當(dāng)辛苦且影響效率。
GT/ICT-Ⅱ上設(shè)置了聲音提示。只要比較不差（這是大多數(shù)情況），計(jì)算機(jī)就發(fā)出“嗒嗒”的提示聲，類(lèi)似于使用萬(wàn)用表的BEEP擋，基本解決

了這個(gè)問(wèn)題。
2.4 大大改善了人-機(jī)界面友好程度
2.4.1 三種曲線(xiàn)坐標(biāo)
GT/ICT只在電壓(V)-電流坐標(biāo)(I)上顯示器件的端口特征曲線(xiàn)，這也是通常把ASA測(cè)試叫做VI曲線(xiàn)測(cè)試的原因。但對(duì)有的測(cè)試結(jié)果，換一種坐標(biāo)

可能更容易理解曲線(xiàn)所反映的電路問(wèn)題。這就好比解析幾何中有直角坐標(biāo)系、又有坐標(biāo)系一樣。
GT/ICT-Ⅱ測(cè)試儀提供三種坐標(biāo)：電壓(V)-電流(I)坐標(biāo)、時(shí)間(T)-電壓(V)坐標(biāo)和電壓(V)-電阻(R)坐標(biāo)。下面給出*閘流管在兩種不同坐

標(biāo)下的曲線(xiàn)。



電壓(V)-電流(I)坐標(biāo) 時(shí)間(T)-電壓(V)坐標(biāo)
注意右邊的曲線(xiàn)。在測(cè)試（正弦）信號(hào)的四分之一處，控制上的觸發(fā)信號(hào)使閘流管導(dǎo)通，曲線(xiàn)變成一段水平線(xiàn)。水平線(xiàn)距橫軸的距離就是閘

流管的飽和電壓。
2.4.2 在曲線(xiàn)上提示參數(shù)（Tooltips）
把鼠標(biāo)光標(biāo)放在曲線(xiàn)上，GT/ICT-Ⅱ利用Tooltips技術(shù)顯示出光標(biāo)處的參數(shù)。十分方便。請(qǐng)參見(jiàn)上圖。
2.4.3 管腳命名
GT/ICT在管腳曲線(xiàn)上提示的管腳號(hào)只是阿拉伯?dāng)?shù)，并且所有管腳只能按數(shù)字順序一維排列。這在有些時(shí)候?yàn)椴环奖恪?br />比如，有的器件管腳是兩維排列的。橫著數(shù)是a、b、c……，豎著數(shù)是1、2、3……。b3表示位于第二列，第三行的管腳；有的電路板外引腳有

上百個(gè)，對(duì)有的特別引腳會(huì)有專(zhuān)門(mén)標(biāo)識(shí)—常見(jiàn)的是標(biāo)識(shí)它上面的信號(hào)名稱(chēng)。如果只能用一維數(shù)字作為管腳名，查找起來(lái)為不便。
GT/ICT-Ⅱ既能夠自動(dòng)對(duì)管腳按一維排列方式分配管腳序號(hào)，也允許用戶(hù)給管腳命名。序號(hào)和用戶(hù)命名同時(shí)提示在相應(yīng)曲線(xiàn)上。查找起來(lái)非常方

便。
2.4.4 自定義曲線(xiàn)顯示顏色
不同人對(duì)顏色有不同偏好。長(zhǎng)期工作在不舒服的顏色下易于疲勞。GT/ICT-Ⅱ允許用戶(hù)修改曲線(xiàn)、坐標(biāo)、字符、背景等的顏色設(shè)置。為自己營(yíng)造

一個(gè)較為舒服的工作環(huán)境。

三、對(duì)數(shù)字器件在線(xiàn)功能測(cè)試的改進(jìn)
數(shù)字器件在線(xiàn)功能測(cè)試，是指對(duì)電路板上的器件直接進(jìn)行邏輯功能好壞的檢測(cè)。對(duì)這項(xiàng)功能的改進(jìn)主要包括三個(gè)方面：
1．加強(qiáng)對(duì)測(cè)試條件的檢查能力；
2．加強(qiáng)用戶(hù)對(duì)測(cè)試過(guò)程的控制；
3．加強(qiáng)對(duì)被測(cè)試器件的在線(xiàn)工作環(huán)境的識(shí)別能力。
通過(guò)上述改進(jìn)，有效提高了測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。

3.1對(duì)測(cè)試條件檢查能力的加強(qiáng)
3.1.1 接觸檢查
測(cè)試夾與被測(cè)器件接觸不好可能會(huì)造成錯(cuò)誤測(cè)試結(jié)果。GT/ICT-Ⅱ在檢查到測(cè)試夾引腳對(duì)地電阻大于約1M歐時(shí)，會(huì)提示接觸不良（開(kāi)路）。
不過(guò)提示開(kāi)路不一定總有接觸問(wèn)題。比如使用在線(xiàn)測(cè)試功能，測(cè)試處于離線(xiàn)狀態(tài)的CMOS器件時(shí)，由于這種器件的輸入阻抗很高，所有輸入腳都

會(huì)判成開(kāi)路。
實(shí)用中如果測(cè)試失敗并且提示有開(kāi)路狀態(tài)，應(yīng)確認(rèn)是否屬于正常情況。如果測(cè)試成功，一般可忽略。
3.1.2 電源電壓檢查
這項(xiàng)測(cè)試要求必須給被測(cè)電路板加電。TTL器件的標(biāo)稱(chēng)工作電壓是5V±5%。電源電壓不達(dá)標(biāo)有可能導(dǎo)致器件工作不正常。GT/ICT-Ⅱ在測(cè)試前會(huì)

自動(dòng)檢查器件上的電壓是否達(dá)標(biāo)。當(dāng)電源電壓*，將給出警告提示；
3.1.3 非法電平檢查
本測(cè)試儀僅支持5V的TTL、CMOS器件的測(cè)試。正常情況下器件所有管腳上的電平值總在大于0V，小于5V之間。但對(duì)一個(gè)有故障的電路板來(lái)說(shuō)，什

么情況都有可能發(fā)生。GT/ICT-Ⅱ在測(cè)試時(shí)一旦檢測(cè)到器件上有過(guò)電壓區(qū)間20%的電平值，將立即給以提示。為了安全起見(jiàn)，不再繼續(xù)測(cè)試下

去。
3.2對(duì)用戶(hù)控制測(cè)試過(guò)程的加強(qiáng)
3.2.1 調(diào)整閾值電平
當(dāng)TTL器件的輸出低于0.8V，說(shuō)它輸出為低（電平）；高于2.4V，說(shuō)它輸出為高（電平）。這里的0.8V，2.4V就是TTL的低、高標(biāo)準(zhǔn)閾值電平。

大致上說(shuō)，器件的高電平越高，低電平越低越好。GT/ICT的閾值電平是做死的，不能調(diào)整。GT/ICT-Ⅱ從硬件上進(jìn)行了擴(kuò)充，允許用戶(hù)修改閾值

電平。比如，允許設(shè)為0.5V，3.0V進(jìn)行測(cè)試。
這是一項(xiàng)很有價(jià)值的改進(jìn)。實(shí)用經(jīng)驗(yàn)表明，使用在線(xiàn)維修測(cè)試儀測(cè)試一個(gè)真正好的TTL數(shù)字器件，它的高電平會(huì)遠(yuǎn)高于標(biāo)準(zhǔn)高閾值2.4V，低電平

比標(biāo)準(zhǔn)低閾值0.8V低很多。究其原因，可能是在線(xiàn)維修測(cè)試儀的測(cè)試速度比器件的實(shí)際工作速度低很多，分布參數(shù)造成的負(fù)載輕很多；反之，

如果測(cè)試到一個(gè)器件的高、低電平很接近標(biāo)準(zhǔn)閾值，這往往表示該器件的驅(qū)動(dòng)能力已明顯下降，雖然能通過(guò)測(cè)試，但不能保證上機(jī)正常工作，

換掉。
3.2.2 修改測(cè)試頻率
GT/ICT-Ⅱ的測(cè)試頻率分4檔可選：45Ktv/S，20Ktv/S，5Ktv/S，1 Ktv/S（Ktv/S=千條測(cè)試向量/每秒）。缺省值為20Ktv/S。實(shí)際測(cè)試時(shí)，可根

據(jù)具體情況選用。比如74HC類(lèi)低功耗器件，測(cè)試失敗后可降低速度再試一次。
3.2.3 加電延遲時(shí)間
在進(jìn)行測(cè)試時(shí)，GT/ICT-Ⅱ自動(dòng)控制給電路板加電——測(cè)試一個(gè)器件的瞬間接通電源，測(cè)試完成后關(guān)斷。這樣的好處是避免用戶(hù)誤操作損壞電路

扳，帶來(lái)的問(wèn)題是由于電路板上一般有較大電源濾波電容，加電后，電路板上的電源電壓是逐步上升的，需要延遲一段時(shí)間后才能達(dá)到預(yù)期值

。不同大小的電路板需要的延遲時(shí)間不同。所以GT/ICT-Ⅱ允許用戶(hù)設(shè)定接通電源延遲多長(zhǎng)時(shí)間后開(kāi)始測(cè)試。
3.3對(duì)器件在線(xiàn)工作環(huán)境識(shí)別能力的加強(qiáng) 
測(cè)試電路板上的器件時(shí)必須使用適當(dāng)?shù)母綦x技術(shù)來(lái)消除關(guān)聯(lián)器件對(duì)被測(cè)試器件的影響。后驅(qū)動(dòng)隔離技術(shù)專(zhuān)門(mén)用于數(shù)字器件的在線(xiàn)測(cè)試隔離。
后驅(qū)動(dòng)技術(shù)有一定的使用條件，不滿(mǎn)足這些條件就會(huì)由于隔離不成功而測(cè)試失敗，把好器件測(cè)成壞器件。對(duì)在線(xiàn)器件工作環(huán)境的識(shí)別，就是盡

量把影響后驅(qū)動(dòng)技術(shù)正確使用的情況檢查出來(lái)，避免誤判。
3.3.1后驅(qū)動(dòng)技術(shù)原理及應(yīng)用中的問(wèn)題
后驅(qū)動(dòng)技術(shù)是美國(guó)人在上世紀(jì)60年代發(fā)明的?？珊?jiǎn)單說(shuō)明如下：
電路結(jié)點(diǎn)一般由器件的一個(gè)輸出和若干個(gè)輸入組成。參見(jiàn)圖一。設(shè)測(cè)試U3，就要在U3各輸入腳所在的電路結(jié)點(diǎn)上施加測(cè)試信號(hào)。由于決定結(jié)點(diǎn)

電位的是器件輸出而不是輸入，參見(jiàn)圖中的X結(jié)點(diǎn)，在該結(jié)點(diǎn)上加信號(hào)實(shí)質(zhì)上是如何驅(qū)動(dòng)U1的、與X引腳關(guān)聯(lián)的輸出，使它能夠根據(jù)測(cè)試要求為

高或?yàn)榈汀3的輸出可以直接取回來(lái)。
假定X結(jié)點(diǎn)當(dāng)前狀態(tài)為低電平，怎樣把它驅(qū)動(dòng)至高電平呢？參見(jiàn)圖二給出的TTL器件的典型輸出結(jié)構(gòu)。


輸出低電平時(shí)，Q1截止，Q2飽合，這個(gè)低電平就是Q2的飽合壓降，約在0.3V以下。Q2的飽和條件為：β2*Ib2>>Ic2。通過(guò)測(cè)試儀給Q2的集電

注入一個(gè)足夠大的電流，使Ic2變得很大，Q2脫離飽合，它的輸出就會(huì)升起來(lái)。問(wèn)題在于Q2上的功耗：P=Ic2*Vce2 會(huì)隨Ic2、Vce2的增加迅速增

加到P > Pcm（Z大額定功耗）。這是否會(huì)損壞Q2呢？后驅(qū)動(dòng)技術(shù)證明，只要驅(qū)動(dòng)時(shí)間不過(guò)26毫秒，不會(huì)有問(wèn)題。在發(fā)達(dá)，滿(mǎn)足這個(gè)時(shí)間
設(shè)備。
對(duì)于輸出為高而要驅(qū)動(dòng)為低的情況，分析方法相同，只是把向Q2集電灌電流改為從Q1發(fā)射拉電流。
從以上對(duì)后驅(qū)動(dòng)技術(shù)的說(shuō)明可以看出：
1．后驅(qū)動(dòng)技術(shù)用于隔離數(shù)字器件之間的關(guān)聯(lián)對(duì)測(cè)試的影響；
2．假定一個(gè)電路結(jié)點(diǎn)由一個(gè)輸出多個(gè)輸入組成；
3．被測(cè)試器件上不能有其它邏輯信號(hào)；
4．不能處理異步時(shí)序電路。
然而在實(shí)際電路板上，確實(shí)存在著數(shù)字器件和非數(shù)字器件關(guān)聯(lián)（比如數(shù)字器件輸出驅(qū)動(dòng)晶體管基、運(yùn)放驅(qū)動(dòng)數(shù)字器件輸入）、一個(gè)電路結(jié)點(diǎn)

上有不止一個(gè)數(shù)字器件輸出（比如數(shù)據(jù)總線(xiàn)）、被測(cè)器件上有其它邏輯信號(hào)（比如板上有晶振）等等。這些情況經(jīng)常會(huì)影響后驅(qū)動(dòng)技術(shù)的正確

使用（一般稱(chēng)作隔離不開(kāi)），會(huì)導(dǎo)致不正確的測(cè)試結(jié)果。
3.3.2 對(duì)和非數(shù)字器件相關(guān)聯(lián)的處理
這種情況造成隔離失敗的原因，主要是結(jié)點(diǎn)電位被非數(shù)字器件鉗死，或者驅(qū)動(dòng)信號(hào)被非數(shù)字器件吸收，加不上去（也相當(dāng)于電平被鉗位）。下

圖中給出了兩種常見(jiàn)的結(jié)構(gòu)。

GT/ICT-Ⅱ能把這些情況識(shí)別出來(lái)，以管腳狀態(tài)的形式提示給用戶(hù)，當(dāng)器件測(cè)試失敗后，供用戶(hù)進(jìn)一步分析。GT/ICT-Ⅱ能夠識(shí)別出6種與此相關(guān)

的管腳狀態(tài)：
電 源：恒高且為電源腳；
恒 高：不可驅(qū)動(dòng)至低于高閾值；
不可高：不可驅(qū)動(dòng)至高于高閾值；
不可低：不可驅(qū)動(dòng)至低于低閾值；
恒 低：不可驅(qū)動(dòng)至高于低閾值；
地 ：恒低且為地腳。
3.3.3 對(duì)多輸出結(jié)點(diǎn)的處理
對(duì)多輸出結(jié)點(diǎn)通常要用總線(xiàn)競(jìng)爭(zhēng)屏蔽信號(hào)（GUARD信號(hào)）去解除非被測(cè)試器件的輸出對(duì)被測(cè)器件輸出的影響。有的版本的GT/ICT測(cè)試儀沒(méi)有

GUARD信號(hào)、有的版本只有1、2個(gè)GUARD信號(hào)—－這在許多情況下不夠用；有的版本的GUARD信號(hào)不可控，僅是通過(guò)一個(gè)小電阻接到電源上——這

不符合后驅(qū)動(dòng)技術(shù)的要求，會(huì)損壞被屏蔽器件。（詳細(xì)說(shuō)明請(qǐng)參閱有關(guān)文章）
GT/ICT-Ⅱ設(shè)置了8個(gè)*后驅(qū)動(dòng)技術(shù)的要求GUARD信號(hào)，并且用戶(hù)可控。
3.3.4 對(duì)板上有邏輯信號(hào)的處理
電路板上的邏輯信號(hào)可能干擾正確測(cè)試。GT/ICT-Ⅱ在測(cè)試前會(huì)進(jìn)行檢查。如果在被測(cè)器件的管腳上發(fā)現(xiàn)有邏輯信號(hào)，會(huì)作為一種管腳狀態(tài)“有

翻轉(zhuǎn)”提示出來(lái)。由于這種情況可能影響、也可能不影響測(cè)試結(jié)果，所以當(dāng)測(cè)試成功后，可忽略；當(dāng)測(cè)試失敗時(shí)，才需要用戶(hù)處理。
3.3.5輸入浮動(dòng)
管腳狀態(tài)“輸入浮動(dòng)”一般情況下是該管腳懸空。除非該管腳直接與電路板的插腳相連，否則意味著該腳斷線(xiàn)。盡管這并不影響對(duì)該器件的測(cè)

試，但它反映了電路板上一個(gè)可能的故障，所以也作為一種管腳狀態(tài)提示出來(lái)。
3.4 提高測(cè)試準(zhǔn)確性的一般方法
從以上討論可以看出，受測(cè)試條件、器件工作環(huán)境的影響，在線(xiàn)測(cè)試的結(jié)果有一定的不確定性。從進(jìn)口測(cè)試儀產(chǎn)品來(lái)看，主要通過(guò)兩種辦法來(lái)

提高測(cè)試的準(zhǔn)確性：
1．加強(qiáng)對(duì)影響測(cè)試結(jié)果的外部因素的識(shí)別能力。在測(cè)試儀產(chǎn)品上的具體體現(xiàn)，就是高檔的測(cè)試儀能識(shí)別的管腳狀態(tài)種類(lèi)多，低檔的能識(shí)別的狀

態(tài)少。比如某進(jìn)口測(cè)試儀能識(shí)別約15種、GT/ICT-Ⅱ能識(shí)別約11種、GT/ICT大約僅4、5種。
2．由于在線(xiàn)測(cè)試的不確定性，把整個(gè)測(cè)試過(guò)程盡量詳細(xì)的顯示出來(lái)，供用戶(hù)結(jié)合測(cè)試結(jié)果進(jìn)行進(jìn)一步分析，這幾乎可以說(shuō)是在線(xiàn)測(cè)試的基本設(shè)

計(jì)原則之一。GT/ICT-Ⅱ比較好的貫徹了這個(gè)原則。遺憾的是某些國(guó)產(chǎn)測(cè)試儀的設(shè)計(jì)者沒(méi)有真正理解這一點(diǎn)，有些測(cè)試功能僅給出“測(cè)試通過(guò)”

、或“測(cè)試失敗”的提示，測(cè)試過(guò)程幾乎沒(méi)有提示。

四、結(jié)語(yǔ)
電路在線(xiàn)維修測(cè)試儀所依據(jù)的技術(shù)原理并不復(fù)雜，但是依據(jù)同樣這些技術(shù)做出的測(cè)試儀產(chǎn)品卻是千差萬(wàn)別，而且許多差別，是在你比較深入的

了解了這項(xiàng)技術(shù)，有了相當(dāng)?shù)氖褂媒?jīng)歷后才能體會(huì)得到。希望本文能對(duì)進(jìn)一步了解這種產(chǎn)品提供幫助。

產(chǎn)品名稱(chēng)：手持式ATP快速檢測(cè)儀 ATP熒光儀 ATP快速檢測(cè)儀  產(chǎn)品型號(hào)： BLW0402

手持式ATP快速檢測(cè)儀 ATP熒光儀 ATP快速檢測(cè)儀  型號(hào)：BLW0402  
主營(yíng)儀器簡(jiǎn)介：  
  
“BLW0402 型ATP 快速檢測(cè)儀”可以快速的測(cè)定食品加工，水處理等行業(yè)樣品中的微生物的含量，并可以用于土壤、天然水體等樣品中污染微生物的檢測(cè)以及生物體組織樣品中ATP 含量的檢測(cè)。   
  
詳細(xì)信息：  
  
檢測(cè)原理: 
    ATP(三磷酸腺苷)廣泛存在于生物細(xì)胞內(nèi)，是細(xì)胞代謝可利用能量的攜帶者，ATP 在水解反應(yīng)中會(huì)變成腺苷二磷酸(ADP)，高能磷酸鍵斷裂的同時(shí)放出能量提供給生物代謝用，因此，ATP被稱(chēng)為生物細(xì)胞的動(dòng)力。螢火蟲(chóng)會(huì)發(fā)光是由于它能合成將化學(xué)物質(zhì)的化學(xué)能轉(zhuǎn)變?yōu)楣饽艿纳锎呋瘎?mdash;螢火蟲(chóng)熒光素酶(簡(jiǎn)稱(chēng)蟲(chóng)光素酶，luciferase)、蟲(chóng)熒光素(D-luciferin)、以及所有細(xì)胞生物都產(chǎn)生的生物能量物質(zhì)--三磷酸腺苷(ATP)。在有氧的條件下，蟲(chóng)光素酶催化蟲(chóng)熒光素和ATP 之間發(fā)生氧化反應(yīng)形成氧化熒光素并發(fā)出熒光，只要具備適當(dāng)條件，不僅螢火蟲(chóng)，即使在試管中也能發(fā)出熒光。在一個(gè)反應(yīng)系統(tǒng)中，當(dāng)蟲(chóng)光素酶和蟲(chóng)熒光素處于過(guò)量的情況下，發(fā)光的強(qiáng)弱取決于ATP 的數(shù)量。因此，以檢測(cè)含細(xì)菌的樣品為例，細(xì)菌細(xì)胞越多，ATP 量越高，發(fā)出的熒光也就越強(qiáng)。這樣，通過(guò)發(fā)光值就能確定樣品中細(xì)菌ATP 的含量，通過(guò)相對(duì)發(fā)光值和細(xì)菌細(xì)胞數(shù)的關(guān)系曲線(xiàn)，就能快速確定樣品中細(xì)菌的細(xì)胞數(shù)。 
反應(yīng)特征： 
速度快—— 常規(guī)培養(yǎng)法24h 以上，而ATP 方法只需要十幾秒鐘。 
可行性—— 微生物數(shù)量與微生物體內(nèi)所含ATP 有明確的相關(guān)性。通過(guò)檢測(cè)ATP 含量可間接得出反應(yīng)中微生物數(shù)量。 

常規(guī)法對(duì)比： 
    ATP 熒光法操作簡(jiǎn)單，無(wú)須專(zhuān)門(mén)培訓(xùn)、實(shí)驗(yàn)室支持。檢測(cè)結(jié)果RLU 讀數(shù)與常規(guī)培養(yǎng)法結(jié)果CFU，不能直接對(duì)比，但有 80%-90%的相關(guān)性，沒(méi)有統(tǒng)計(jì)上的顯著差異。與常規(guī)培養(yǎng)檢測(cè)法配合使用，可用ATP 檢測(cè)法檢測(cè)污染，而用培養(yǎng)檢測(cè)法鑒定污染物種類(lèi)、污染源。 

技術(shù)參數(shù)： 
連續(xù)工作時(shí)間： 24h 
預(yù)警提示功能： 自動(dòng)提示樣品是否標(biāo) 
可測(cè)光譜范圍： 320nm～1000nm 
儀器重量： 約258g(含電池) 
環(huán)境溫度： 5℃～40℃ 
相對(duì)濕度： 10%～90%(25℃) 
外形尺寸： 202×78×30(mm) 
電源電壓： 電池供電(3V) 
檢測(cè)精確度：4×10-18mol ATP  
存儲(chǔ)容量：大于2000條記錄 
結(jié)果表述：可根據(jù)RLU值采用預(yù)置公式計(jì)算后顯示級(jí)別 
應(yīng)用領(lǐng)域： 
    食品中微生物快速檢測(cè)。飲用水中微生物快速檢測(cè)。餐飲器具潔凈度快速檢測(cè)。檢測(cè)有機(jī)物殘留，阻斷微生物生長(zhǎng)環(huán)境。醫(yī)療環(huán)境工作平臺(tái)(器械表面、內(nèi)窺鏡、空氣)即時(shí)評(píng)估。食品加工器具、工作臺(tái)等關(guān)鍵控制點(diǎn)消毒結(jié)果快速檢測(cè)，及時(shí)進(jìn)行二次清潔處理，配合HACCP 體系的管理。

產(chǎn)品名稱(chēng)： 可調(diào)式涂膜器 手動(dòng)可調(diào)制備器 手動(dòng)涂布機(jī) 產(chǎn)品型號(hào)：50/100/150/200/250/300mm

可調(diào)式涂膜器 手動(dòng)可調(diào)制備器 手動(dòng)涂布機(jī) 型號(hào)：50/100/150/200/250/300mm

產(chǎn)品概述： 
可調(diào)式涂膜器于對(duì)膜厚的細(xì)微差別進(jìn)行精確評(píng)估的研究。通過(guò)調(diào)節(jié)制備器上方的兩個(gè)微分計(jì)，能上下方向調(diào)整下面的gua刀以控制間隙，這間隙即終涂層厚度。高精確度的測(cè)微計(jì)，可在一定范圍內(nèi)調(diào)整葉片間隙，以10μm遞增。尤其于對(duì)膜厚的細(xì)微差別進(jìn)行精確評(píng)估的研究項(xiàng)目。 
技術(shù)參數(shù)： 
◆不銹鋼 - 耐腐蝕 
◆有效涂膜寬度：50/100/150/200/250/300mm 
◆精度：±2μm 
◆涂膜厚度范圍：0-3500μm 
◆以10微米為單位調(diào)整gua刀的間隙 
訂購(gòu)信息： 
可調(diào)式涂膜器（寬度50mm） 
可調(diào)式涂膜器（寬度100mm） 
可調(diào)式涂膜器（寬度150mm） 
可調(diào)式涂膜器（寬度200mm） 
可調(diào)式涂膜器（寬度250mm） 
可調(diào)式涂膜器（寬度300mm）

產(chǎn)品名稱(chēng)：多管漩渦混合器  產(chǎn)品型號(hào)：HMV-50A

多管漩渦混合器 型號(hào)：HMV-50
應(yīng)用領(lǐng)域

主要于食品安全中農(nóng)藥殘留、獸藥殘留、食品添加劑的檢驗(yàn)以及藥物分析、藥物等科學(xué)領(lǐng)域，在處理大量平行樣品時(shí)顯示了*的優(yōu)勢(shì)，省時(shí)省力，自動(dòng)化混合提高實(shí)驗(yàn)方法的重復(fù)性和被測(cè)樣品的回收率。

儀器介紹
多管混合器，用于大批量樣品的混勻，有利于平行試驗(yàn)的進(jìn)行，有效減小試驗(yàn)誤差。
主要特點(diǎn) 
1.多可同步處理50個(gè)樣品；
2.LED顯示速度、時(shí)間；
3.微處理器控制；
4.脈沖工作模式；
5.可選用不同規(guī)格的試管架、托盤(pán)墊。
技術(shù)參數(shù)