數(shù)據(jù)采集儀  
 者較高采樣速率的振動(dòng)、噪聲、沖擊等信號(hào)采集，Z高采樣頻率1MHz，采用16 位高速AD 芯片、多通道并行、連續(xù)大容量設(shè)計(jì)，性能穩(wěn)定可靠，可在具備USB2.0 高速接口的計(jì)算機(jī)上即插即用，具有精度高、失真小、噪聲低、通道*性好、匹配性能好的優(yōu)點(diǎn)，可與DASP 系列軟件相連，形成具有一百余項(xiàng)先進(jìn)技術(shù)的高性能數(shù)據(jù)采集和信號(hào)處理系統(tǒng)。
主要技術(shù)指標(biāo)
Z高采樣頻率：1.024MHz/實(shí)際采樣通道數(shù)
并行通道*性：幅值0.05dB，相位0.2度

數(shù)據(jù)采集儀  

通道間串?dāng)_：-100dB
A/D分辨率：16位
輸入量程：±5V
輸入噪聲：<0.5mVrms @±5V量程
輸入阻抗：>1MΩ
輸入接頭：BNC
頻率誤差：<0.01%
幅值誤差：<1%
幅值線性度：<0.025%
總諧波失真：<0.01%
采集深度：連續(xù)，僅受硬盤(pán)和操作系統(tǒng)限制
外形*：302×235×82mm  @ 32/64通道
       302×235×57mm  @ 16通道
接口：USB2.0，即插即用，支持熱插拔
操作系統(tǒng)：Windows 98/Me/2000/XP
應(yīng)用軟件：DASP系列全部軟件
質(zhì)量體系：ISO9001:2000質(zhì)量體系認(rèn)證,GB/T19001:2000國(guó)內(nèi)質(zhì)量體系認(rèn)證
許 

產(chǎn)品名稱：礦用粉塵采樣器 產(chǎn)品型號(hào)：CCZ20

礦用粉塵采樣器型號(hào)：CCZ20

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

CCZ20型礦用粉塵采樣器時(shí)有高性能吸氣泵、自動(dòng)時(shí)間控制電路、流量調(diào)節(jié)電路、自動(dòng)反饋恒流電路、欠壓保護(hù)報(bào)警電路、安全電源等組成。具有無(wú)脈動(dòng)氣流、負(fù)壓、負(fù)載能力大。自動(dòng)定時(shí)采樣、安全可靠、堅(jiān)固耐用、使用方便等特點(diǎn)。 可廣泛使用于工礦企業(yè)，勞動(dòng)安全、衛(wèi)生及環(huán)境保護(hù)等部門(mén)，測(cè)定環(huán)境空氣中浮游粉塵的濃度。

產(chǎn)品特點(diǎn)及用途 
CCZ20 型礦用粉塵采樣器（以下簡(jiǎn)稱采樣器）為短時(shí)、可調(diào)流量式粉塵采樣器，是一種用于測(cè)定環(huán)境空氣中浮游粉塵濃度的常規(guī)儀器。該采樣器配合微量天平可測(cè)量計(jì)算出含塵空氣中呼吸性粉塵，非呼吸性粉塵及總粉塵的質(zhì)量。其分離效能符合“BMRC” 呼吸性粉塵分離效能標(biāo)準(zhǔn)曲線的要求，是一種較為可靠測(cè)塵裝置。采樣器具有自動(dòng)定時(shí)采樣，無(wú)脈動(dòng)氣流，負(fù)載能力大，安全可靠，堅(jiān)固耐用，便于攜帶和現(xiàn)場(chǎng)使用等優(yōu)點(diǎn)。 
該采樣器于工礦企業(yè)、勞動(dòng)安全、勞動(dòng)衛(wèi)生及環(huán)境保護(hù)等部門(mén)的粉塵監(jiān)測(cè)，特別于煤礦井下及其它含有爆炸危險(xiǎn)性氣體的作業(yè)場(chǎng)所使用。 
主要技術(shù)指標(biāo)： 
項(xiàng)目技術(shù)指標(biāo) 
采樣器流量20L/min 
采樣器流量誤差≤5.0%FS 
采樣器流量穩(wěn)定性≤3.0﹪FS(30min內(nèi)) 
負(fù)載能力≥200Pa 
連續(xù)工作時(shí)間≥100min 
流量計(jì)準(zhǔn)確度2.5級(jí) 
防爆等級(jí)Exibd I 
外形尺寸200x140x80mm 
重量1.8kg

產(chǎn)品名稱：非接觸厚度電阻率測(cè)試儀 產(chǎn)品型號(hào)：JXNRT1

非接觸厚度電阻率測(cè)試儀型號(hào)：JXNRT1 
一、測(cè)試原理 
1、電阻率測(cè)試探頭原理 
電阻率測(cè)試模塊是由一對(duì)共軸渦流傳感器，以及后續(xù)的處理電路組成。將半導(dǎo)體硅片置于兩個(gè)探頭的間隙中時(shí)，在電磁場(chǎng)的作用下，半導(dǎo)體硅片中會(huì)產(chǎn)生渦流效應(yīng)，通過(guò)檢測(cè)渦流效應(yīng)的大小，可以換算出該硅片的電阻率和方塊電阻。本方法是一種非接觸無(wú)損測(cè)量的方法，不損傷材料表面，可以在大多數(shù)場(chǎng)合有效替代四探針?lè)y(cè)試電阻率以及方塊電阻。 
2、厚度測(cè)試探頭原理 
厚度探頭采用的是一對(duì)共軸電容位移傳感器。電容傳感器具有重復(fù)性好，測(cè)試數(shù)值穩(wěn)定，技術(shù)成熟等優(yōu)點(diǎn)，廣泛用于各種材料厚度的測(cè)試。 
  
二、范圍 
本設(shè)備為非接觸無(wú)損測(cè)量設(shè)備，測(cè)試過(guò)程中對(duì)硅片表面以及內(nèi)部不會(huì)造成損傷。特別于代替四探針?lè)ㄓ糜诎雽?dǎo)體硅片成品分選檢驗(yàn)。一臺(tái)儀器可以同時(shí)對(duì)厚度和電阻率兩個(gè)指標(biāo)進(jìn)行測(cè)試分選，減少了測(cè)試工序和測(cè)試時(shí)間，提高了測(cè)試效率。 
典型的客戶：科研單位、硅片生產(chǎn)廠商、半導(dǎo)體器件生產(chǎn)廠商、光伏企業(yè)、導(dǎo)電薄膜生產(chǎn)企業(yè)。 
三、儀器構(gòu)成 
1、測(cè)試主機(jī)：1 臺(tái) 
2、電源線：1 根 
3、串口數(shù)據(jù)線：1 根 
4、電腦端軟件：1 套 
5、塑料定位柱：2 個(gè) 

四、儀器外觀尺寸結(jié)構(gòu)及圖片 
1、整機(jī)尺寸：340*260*180mm 
2、機(jī)箱顏色：電腦白 


3、儀器結(jié)構(gòu)：本儀器采用厚度探頭和電阻率探頭前后并列安裝的方式。 
五、儀器主要指標(biāo) 
1、電氣規(guī)格 
a. 使用標(biāo)準(zhǔn)三插頭，由 220V 交流電供電，整機(jī)功耗小于 15 瓦。 
b. 本儀器測(cè)試平臺(tái)和外殼均為金屬材料，按照安全規(guī)范，請(qǐng)確保電源地線正確連接。 
2、測(cè)試范圍 
測(cè)試樣品要求：厚度小于 600um 的半導(dǎo)體硅片以及其他類似材料。(為客戶提供特殊定制，厚度大的測(cè)試范圍可以擴(kuò)展到 800um) 
電阻率范圍： L 檔： 0.2-5 Ω·cm 
H 檔： 5-50 Ω·cm 
注： 電阻率不在上述量程范圍內(nèi)的可以按要求調(diào)整， 調(diào)整的范圍可以在0.001-100Ω*cm。 
厚度范圍： 100-600 um （定制版可以做到 300-800um） 注：普通版本厚度大于 700um 的硅片無(wú)法放入測(cè)試區(qū)域。